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广州超声波探伤仪探头的种类
日期：2024-04-30 03:55
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摘要：
超声波探伤仪探测头种类繁多，日常使用中常见的探测头种类有以下几种：
A.超声波探伤仪直探测头
进行垂直探伤用的单晶片探测头，主要用在纵波探伤。直探测头由插座、外壳、保护膜、压电晶片、吸声材料等组成，头接触面为可更换的软膜，用在检查表层粗糙的部件。
B.超声波探伤仪斜探测头
进行斜射探伤用的探测头，主要用在横波探伤。斜探测头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成，斜探测头的声束与探测头表层倾斜，因此可用在检查直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检查面之间存在夹角的区域。
C.超声波探伤仪小径管探测头
单晶微型横波斜探测头，用在小直径薄壁管焊接接头的检验。检查标准参照电力行业标准DL/T8202002《管道焊接接头超声波检验技术规程》，适合检查管径≥32mm、小于等于159mm，壁厚≥4mm、小于14mm的小直径薄壁管；也可适用在其他行业类似管道的检查。探测头外形尺寸小,前沿距离≤5mm，始脉冲占宽≤1.5mm(相当于钢中深度)，分辨力大于等于20dB。根据被检查管道外径的不同，检查面被加工成对应管径的弧度。
D.超声波探伤仪表层波探测头
用在发射和接收表层波的探测头。表层波是沿部件表层传播的波，幅值随表层下的深度迅速减少，传播速度是横波的0.9倍，质点的振动轨迹为椭圆。表层波探测头在被检部件的表层
和近表层产生表层波。型号中列明的角度为有机玻璃斜块的倾斜角(入射角)。
E.超声波探伤仪可拆式斜探测头
斜探测头的一种特殊类型，将斜探测头分成斜块、探测头芯两个部分，使用时将两者组合起来。常用的规格2.5P20的探测头芯、不同K值的斜块(1.0、1.5、2.0、2.5、3.0等等)。接受定制其他规格的可拆式斜探测头。
F.超声波非金属检查用探测头
用在检查非金属材料，如混凝土、木材、岩石等。成对使用，一发一收，工作方式为透射式。铝合金外壳，频率从12.5KHz到250KHz，连接到探测头线的插座为Q9。
G.超声波探伤仪双晶探测头
装有两个晶片的探测头，一个作为发射器，另一个作为接收器。又称分割式探测头、或者联合双探测头。双晶探测头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成，使用垂直的纵波声束扫查部件。相对直探测头而言，双晶直探测头具有更好的近表层缺陷检出能力；对于粗糙或者弯曲的检查面，具有更好的耦合效果。
H.超声波水浸式探测头
用在半自动或者自动化探伤系统中。当探测头发射的声束轴线垂直于检查面时，纵波直声束扫查部件；调节探测头声束轴线与检查面成一定的夹角，声束在水和部件这两种介质的界面折射，可在部件中产生倾斜的横波声束来扫查部件。将探测头晶片前面的有机玻璃或者固化的环氧树脂加工成一定弧度(球面或者圆柱面)，可得到点聚焦或者线聚焦的水浸式探测头。
A.超声波探伤仪直探测头
进行垂直探伤用的单晶片探测头，主要用在纵波探伤。直探测头由插座、外壳、保护膜、压电晶片、吸声材料等组成，头接触面为可更换的软膜，用在检查表层粗糙的部件。
B.超声波探伤仪斜探测头
进行斜射探伤用的探测头，主要用在横波探伤。斜探测头由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成，斜探测头的声束与探测头表层倾斜，因此可用在检查直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检查面之间存在夹角的区域。
C.超声波探伤仪小径管探测头
单晶微型横波斜探测头，用在小直径薄壁管焊接接头的检验。检查标准参照电力行业标准DL/T8202002《管道焊接接头超声波检验技术规程》，适合检查管径≥32mm、小于等于159mm，壁厚≥4mm、小于14mm的小直径薄壁管；也可适用在其他行业类似管道的检查。探测头外形尺寸小,前沿距离≤5mm，始脉冲占宽≤1.5mm(相当于钢中深度)，分辨力大于等于20dB。根据被检查管道外径的不同，检查面被加工成对应管径的弧度。
D.超声波探伤仪表层波探测头
用在发射和接收表层波的探测头。表层波是沿部件表层传播的波，幅值随表层下的深度迅速减少，传播速度是横波的0.9倍，质点的振动轨迹为椭圆。表层波探测头在被检部件的表层
和近表层产生表层波。型号中列明的角度为有机玻璃斜块的倾斜角(入射角)。
E.超声波探伤仪可拆式斜探测头
斜探测头的一种特殊类型，将斜探测头分成斜块、探测头芯两个部分，使用时将两者组合起来。常用的规格2.5P20的探测头芯、不同K值的斜块(1.0、1.5、2.0、2.5、3.0等等)。接受定制其他规格的可拆式斜探测头。
F.超声波非金属检查用探测头
用在检查非金属材料，如混凝土、木材、岩石等。成对使用，一发一收，工作方式为透射式。铝合金外壳，频率从12.5KHz到250KHz，连接到探测头线的插座为Q9。
G.超声波探伤仪双晶探测头
装有两个晶片的探测头，一个作为发射器，另一个作为接收器。又称分割式探测头、或者联合双探测头。双晶探测头主要由插座、外壳、隔声层、发射晶片、接收晶片、延迟块等组成，使用垂直的纵波声束扫查部件。相对直探测头而言，双晶直探测头具有更好的近表层缺陷检出能力；对于粗糙或者弯曲的检查面，具有更好的耦合效果。
H.超声波水浸式探测头
用在半自动或者自动化探伤系统中。当探测头发射的声束轴线垂直于检查面时，纵波直声束扫查部件；调节探测头声束轴线与检查面成一定的夹角，声束在水和部件这两种介质的界面折射，可在部件中产生倾斜的横波声束来扫查部件。将探测头晶片前面的有机玻璃或者固化的环氧树脂加工成一定弧度(球面或者圆柱面)，可得到点聚焦或者线聚焦的水浸式探测头。
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